ACF导电粒子压痕+异物查抄机是用于检测液晶面板Bonding段COG和FOG部位上出现的ACF导电粒子压痕情况以及Bonding异物，蕴含导电粒子的数量、散布、压痕强度、偏位、各类异物等。其主题技术是使用红表和微分过问技术，选取线扫相机对液晶面板COG、FOG上Bump区域进行光学成像，通过传统图像算法和AI深度进建算法对图像进行分析，最终确认该指标检测对象是否合格。
| 项目 | 机能指标 |
| 机台利用 | 用于检测液晶面板Bonding段COG和FOG部位上出现的ACF导电粒子的压痕情况以及Bonding异物，并凭据肯定的尺度判断面板的OK / NG |
| 检 测 项 | 检测IC和FPC上导电粒子的数量（漏压、粒子少）、散布、压痕强度（过压、浅压） |
| 检测IC和FPC偏位 | |
| 检测扫描区域的异物、侵蚀、划伤、裂纹、破片、脏污、Dimple 等缺点 | |
| 成像系统 | DIC微分过问相衬显微镜组件，定造物镜，定造光源，实时激光自动追焦 |
| 选取线扫相机对液晶面板COG、FOG上Bump区域进行成像 | |
| 光学精度 | 0.5um / Pixel |
| 检测功夫 | 7 Inch Panel 双台阶≤17sec |
| 误报率 | ≤1% |
| 粒子检测 | 统一个IC Bump/FPC电极导电粒子数检测误差： 导电粒子总数≤10颗时，检测误差±1颗/Bump 导电粒子总数>10颗时，检测误差±10%/Bump |
| 偏位检测 | 检测IC的X，Y方向偏位（使用IR相机）： 检测精度±1.5μm；陆续检测30次，沉复误差≤3μm |
| 检测FPC的X，Y方向偏位： 检测精度 ≤±3μm；陆续检测30次，沉复误差≤6μm |
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| 粒子散布检偏位：检测精度±3μm | |
| 其它参数 | 全自动视觉对位：进料CCD初校对后，平台二次高精度校对 活动系统：高精度直线电机，DD马达驱动 |
缺点图片
ITO线路AOI查抄机（又叫台阶电极自动查抄机、端子划伤自动查抄机）重要用于液晶屏线路袒露区域ITO的缺点检测，提高产线良率和出产厂家的造程节造能力。重要检测线路划伤、短路、断路、微断、异物（脏污）、侵蚀、毛刺等。设备可宽泛利用于LCD液晶屏行业、触摸屏行业、光伏行业和LED行业等领域，实现对玻璃基板或柔性基板（PET、CPI等）的ITO线路、银浆线路等的急剧检测。
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ACF导电粒子压痕+异物查抄机是用于检测液晶面板Bonding段COG和FOG部位上出现的ACF导电粒子压痕情况以及Bonding异物，蕴含导电粒子的数量、散布、压痕强度、偏位、各类异物等。其主题技术是使用红表和微分过问技术，选取线扫相机对液晶面板COG、FOG上Bump区域进行光学成像，通过传统图像算法和AI深度进建算法对图像进行分析，最终确认该指标检测对象是否合格。
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3C产品表观缺点AVI查抄机重要用于3C产品表观的缺点检测，提高产线良率和出产厂家的造程节造能力。重要利用领域蕴含手机、笔记本电脑、平板电脑、液晶模组、可穿戴设备、电视等。 可检测的缺点有：表表划痕、铁壳/塑料件毛刺、破损、压伤、崩边、缺口、暗裂、毛刺、翘曲、异物、脏污、白点、气泡、针孔、凹凸等。
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利用于各类液晶屏的点灯、表观检测使用，针对液晶屏在出产过程中出现的亮点、漏光、白点、异物、斑纹、MURA、黑点、色彩不均、划伤、气泡、褶皱等缺点进行自动化光学检测。 API 可针对偏贴前及偏贴后的显示面板进行点灯模拟检测，观察是否有瑕疵产生。 重要特点： 1、检测系统是能够针对各类尺寸分辨率的制品LED屏进行的点灯、表观查抄； 2、能够针对LED检测过程中的尘埃，进行断根并自动鉴别，降低检测误鉴别率； 3、产品检测精度：最幼检测能力，LED屏每一个像素的缺点； 4、检测速度：实现产品全检测（红绿蓝是非灰各类色彩）整个检测功夫<1分钟；<1分钟；
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手机玻璃盖板是手机触摸屏最表表的玻璃。随着智能手机的鼓起，玻璃盖板在电子行业的利用极其宽泛，它是贴合在触摸屏的最表层作为�；て聊缓兔阑返淖饔�。而盖板缺点自动检测在智能手机领域被以为是困扰行业多年的技术瓶颈，产品表表缺点检测都必要很高的检测精度和靠得住的打光成效来做保障，尤其是覆膜后的手机盖板玻璃检测难度更大。 目前该设备能够检测白片以及丝印后的盖板，同时设备能够兼容3D玻璃盖板的检测，还能够车载玻璃屏缺点检测和液晶屏面内缺点检测。
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FPC柔性电路板国定异物查抄机是用于检测FPC国定后的FPC偏位、气泡、各类异物、粒子缺失等缺点。 选取面阵相机进行双面拍摄，取摄不良图片，通过软件算法将不良提取，凭据分歧的不良设计分歧的软件算法来处置及分类，另表可凭据算法阈致反调整检测规格。 实时监控该条出产线的国定质量，出现批量不良时设备报警提醒员工实时处置，大大减低不良品的产生，预防不良品流到下岗位。
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